从链路损耗预算、光电接口及可靠性出发,按阶段验证产品性能和制造可行性。
01
将波分解复用器件DeMUX、硅光芯片与FAU光纤耦合放在同一设计中评估,减少接口重复定义。
02
结合PD与TIA布局、互连寄生参数和散热条件,评估flip-chip倒装焊接或2.5D集成封装技术路径。
03
从链路损耗预算、光电接口和产品可靠性要求出发,按阶段验证产品性能与DFM制造可行性。
以下为目标配置与合作内容,具体适配方案需要结合调制格式、符号率和客户系统要求共同评估。
以上为联合开发与技术评估方向,不代表已量产标准型号。具体性能、尺寸、功耗、成本与交付节奏,在方案评估和阶段验收中确定。
由客户指定的光纤、芯片、电气接口与系统目标出发,确定组件配置和验证范围。
围绕接收链路损耗、PD与TIA布局、FAU耦合和紧凑空间开展组件设计。
结合高密度光纤接口与多芯片互连需求,协同确定接收端的电气、光学和热设计边界。
根据封装空间、电气接口和热设计要求,联合评估接收组件与硅基平台的集成路径。
依据项目约定提供设计方案、工程样品和测试结果,并配合客户开展系统验证及后续量产导入。
支持Si-SOI、SiN及硅光与III-V异质集成相关设计与平台适配,具体器件能力和集成范围依据所选工艺平台确定。
协同PD、TIA与FAU,评估倒装焊接或2.5D集成封装,并验证带宽、噪声、寄生参数和散热匹配。
联合评估波分解复用与探测器阵列的集成方案,为后续集成DeMUX的RX组件开发定义接口。
无论是标准器件选型、光路耦合方案,还是联合开发需求,欢迎与技术团队沟通。